參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

孔徑偏差檢測(cè)：公差范圍±0.05mm，測(cè)量分辨率0.001mm

孔垂直度誤差檢測(cè)：允許偏差≤0.1mm/100mm

孔位坐標(biāo)精度檢測(cè)：定位誤差≤±0.03mm（X/Y/Z三軸）

孔壁表面粗糙度檢測(cè)：Ra值控制范圍0.8-6.3μm

孔口圓度誤差檢測(cè)：橢圓度≤0.02mm（Φ3-Φ50mm孔徑）

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋁合金、鈦合金、不銹鋼精密結(jié)構(gòu)件

復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP）層壓板

工程塑料：PEEK、PTFE高分子材料制件

陶瓷材料：氧化鋯、氮化硅特種陶瓷部件

精密電子元件：PCB板定位孔、連接器安裝孔

檢測(cè)方法

ASTM E2919-14：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法（光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)定孔幾何特征）

ISO 1101:2017：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）幾何公差檢測(cè)

GB/T 1800.2-2020：極限與配合標(biāo)準(zhǔn)（孔軸公差帶檢測(cè)）

GB/T 1958-2017：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定）

ISO 4287:1997：表面粗糙度參數(shù)測(cè)量規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列，空間精度（1.8+L/250）μm

激光掃描測(cè)量儀：Hexagon Absolute Arm 7520 SI，掃描精度±0.025mm

數(shù)字式投影儀：Nikon V12，放大倍率20X-100X，測(cè)量重復(fù)性0.5μm

表面粗糙度儀：Taylor Hobson Form Talysurf i-Series，Ra測(cè)量范圍0.01-50μm

工業(yè)CT掃描系統(tǒng)：ZEISS METROTOM 1500，空間分辨率3μm（Voxel尺寸）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)